德國EPK MiniTest 450透過涂層超聲波測(cè)厚儀：

超聲波測(cè)厚儀 • 

便攜式手持精密測(cè)厚儀 • 

用于測(cè)量鋼、不銹鋼、鋁、玻璃、 塑料等材料厚度 • 

A/B掃描功能（450） • 

自動(dòng)識(shí)別探頭型號(hào) • 

自動(dòng)零點(diǎn)校準(zhǔn)及高速掃描功能 •

脈沖-回波模式，量程 0.65...500 mm 

回波-回波模式（透過涂層測(cè)量） 量程 (3…25 mm)

德國EPK MiniTest 450透過涂層超聲波測(cè)厚儀：多種類型探頭可選 標(biāo)準(zhǔn)配置中，所有型號(hào)超聲波測(cè)厚儀均 配有5MHz探頭。為了滿足客戶的特殊 需求，Elektrophysik公司提供其他型號(hào)探頭可供選配， 可連接到Minitest 400 系列的所有型號(hào)。自動(dòng)探頭識(shí)別功能允 許在不同的測(cè)量需求下快速切換。

探頭技術(shù)規(guī)格       

型號(hào)        ?             頻率              測(cè)量范圍                                            溫度                        應(yīng)用

U5.0E      8 mm      5.0 MHz         3…25 mm (E-E) 0.8…300 mm (I-E)  -20…+50°C 440、450標(biāo)配探頭，可透 過涂層測(cè)量

U5.0        8 mm       5.0 MHz       0.8…350 mm                                -20…+50°C 420、430標(biāo)配

U2.0       12 mm      2.0 MHz       2.0…500 mm                                  -20…+50°C 平面 粗糙表面 (例如鑄鐵)

U7.5       6 mm        7.5 MHz        0.65…50 mm                                  -20…+50°C      薄壁 小弧面工件

U10.0      4 mm        10.0 MHz      0.65…20 mm                                -20…+50°C      小型工件 

U5.0HT   13 mm       5.0 MHz 3     0…200 mm                                   -20…+350°C  高溫探頭